书目信息 |
题名: |
PCB失效分析技术
|
|
作者: | 陈蓓 , 靳婷 , 李志东 编著 | |
分册: | ||
出版信息: | 北京 科学出版社 2018 |
|
页数: | 150页 | |
开本: | 24cm | |
丛书名: | ||
单 册: | ||
中图分类: | TN410.2 | |
科图分类: | ||
主题词: | 印刷电路--Yin Shua Dian Lu--计算机辅助设计--应用软件 | |
电子资源: | ||
ISBN | 978-7-03-058917-0 |
000 | 01305nam0 2200313 450 | |
001 | 1851291622 | |
005 | 20181130141502.49 | |
010 | @a978-7-03-058917-0@dCNY88.00 | |
092 | @aCN@b科学10月 | |
099 | @aCAL 012018141818 | |
100 | @a20181107d2018 ekmy0chiy50 ea | |
101 | 0 | @achi |
102 | @aCN@b110000 | |
105 | @aak a 000yy | |
106 | @ar | |
200 | 1 | @aPCB失效分析技术@APcb Shi Xiao Fen Xi Ji Shu@f陈蓓编著 |
210 | @a北京@c科学出版社@d2018 | |
215 | @a150页@c图@d24cm | |
304 | @a其他责任者还有靳婷, 李志东, 周波 | |
320 | @a有书目 | |
330 |
@a本书内容来自我国先进印制电路制造企业,是一群长期从事PCB失效分析的资深工程师的经验总结。作者以常见失效模式为切入点,针对分层起泡、可焊性不良、键合不良、导通不良和绝缘不良等,归纳出了失效机理、失效分析思路、失效分析案例。 全书共8章,主要内容包括常用分析技术、PCB分层失效分析、PCB可焊性失效分析、PCB金线键合失效分析、PCB导通失效分析、PCB绝缘失效分析、孔环裂纹失效分析案例和烧板失效分析案例。 |
|
606 | 0 | @a印刷电路@AYin Shua Dian Lu@x计算机辅助设计@x应用软件 |
690 | @aTN410.2@v5 | |
701 | 0 | @a陈蓓@AChen Bei@4编著 |
701 | 0 | @a靳婷@AJin Ting@4编著 |
701 | 0 | @a李志东@ALi Zhi Dong@4编著 |
801 | 0 | @aCN@b济南华夏@c20181126 |
801 | 0 | @aCN@b曲阜师范大学图书馆图书馆@c20181130@g@R路倩 |
905 | @aQSD@dTN410.2@e47 | |
PCB失效分析技术/陈蓓编著.-北京:科学出版社,2018 |
150页:图;24cm |
ISBN 978-7-03-058917-0:CNY88.00 |
本书内容来自我国先进印制电路制造企业,是一群长期从事PCB失效分析的资深工程师的经验总结。作者以常见失效模式为切入点,针对分层起泡、可焊性不良、键合不良、导通不良和绝缘不良等,归纳出了失效机理、失效分析思路、失效分析案例。 全书共8章,主要内容包括常用分析技术、PCB分层失效分析、PCB可焊性失效分析、PCB金线键合失效分析、PCB导通失效分析、PCB绝缘失效分析、孔环裂纹失效分析案例和烧板失效分析案例。 |
● |
相关链接 |
正题名:PCB失效分析技术
索取号:TN410.2/47
 
预约/预借
序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
1 | 1476301 | 214763013 | 理库/ [索取号:TN410.2/47] | 在馆 | |
2 | 1476302 | 214763022 | 理库/ [索取号:TN410.2/47] | 在馆 |